Andreas Rosenauer

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Andreas Rosenauer

Professor for experimental phyics, University of Bremen

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Transmission electron microscopy image simulation material science


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Use of a rapid cytotoxicity screening approach to engineer a safer zinc oxide nanoparticle through iron doping S George, S Pokhrel, T Xia, B Gilbert, Z Ji, M Schowalter, A Rosenauer, ... ACS nano 4 (1), 15-29, 2010	593	2010
Atomic electric fields revealed by a quantum mechanical approach to electron picodiffraction K Müller, FF Krause, A Béché, M Schowalter, V Galioit, S Löffler, ... Nature communications 5 (1), 5653, 2014	326	2014
Measurement of specimen thickness and composition in AlxGa1-xN/GaN using high-angle annular dark field images A Rosenauer, K Gries, K Müller, A Pretorius, M Schowalter, A Avramescu, ... Ultramicroscopy 109 (9), 1171-1182, 2009	211	2009
Gain studies of (Cd, Zn) Se quantum islands in a ZnSe matrix M Strassburg, V Kutzer, UW Pohl, A Hoffmann, I Broser, NN Ledentsov, ... Applied physics letters 72 (8), 942-944, 1998	197	1998
Composition mapping in InGaN by scanning transmission electron microscopy A Rosenauer, T Mehrtens, K Müller, K Gries, M Schowalter, PV Satyam, ... Ultramicroscopy 111 (8), 1316-1327, 2011	188	2011
Digital analysis of high-resolution transmission electron microscopy lattice images A Rosenauer Optik 102, 63-69, 1996	172	1996
Tin-Assisted Synthesis of by Molecular Beam Epitaxy M Kracht, A Karg, J Schörmann, M Weinhold, D Zink, F Michel, M Rohnke, ... Physical Review Applied 8 (5), 054002, 2017	169	2017
Extracting quantitative information from high resolution electron microscopy S Kret, P Ruterana, A Rosenauer, D Gerthsen physica status solidi (b) 227 (1), 247-295, 2001	165	2001
Procedure to count atoms with trustworthy single-atom sensitivity S Van Aert, A De Backer, GT Martinez, B Goris, S Bals, G Van Tendeloo, ... Physical Review B—Condensed Matter and Materials Physics 87 (6), 064107, 2013	163	2013
Structural and chemical analysis of CdSe/ZnSe nanostructures by transmission electron microscopy N Peranio, A Rosenauer, D Gerthsen, SV Sorokin, IV Sedova, SV Ivanov Physical Review B 61 (23), 16015, 2000	162	2000
STEMSIM—a new software tool for simulation of STEM HAADF Z-contrast imaging A Rosenauer, M Schowalter Microscopy of semiconducting materials 2007, 170-172, 2008	153	2008
Entropy-limited topological protection of skyrmions J Wild, TNG Meier, S Pöllath, M Kronseder, A Bauer, A Chacon, M Halder, ... Science advances 3 (9), e1701704, 2017	151	2017
Measurement of atomic electric fields and charge densities from average momentum transfers using scanning transmission electron microscopy K Müller-Caspary, FF Krause, T Grieb, S Löffler, M Schowalter, A Béché, ... Ultramicroscopy 178, 62-80, 2017	151	2017
Protein adsorption on colloidal alumina particles functionalized with amino, carboxyl, sulfonate and phosphate groups F Meder, T Daberkow, L Treccani, M Wilhelm, M Schowalter, ... Acta biomaterialia 8 (3), 1221-1229, 2012	146	2012
A pnCCD-based, fast direct single electron imaging camera for TEM and STEM H Ryll, M Simson, R Hartmann, P Holl, M Huth, S Ihle, Y Kondo, P Kotula, ... Journal of Instrumentation 11 (04), P04006, 2016	136	2016
Quantification of segregation and mass transport in In x Ga 1− x A s/G a A s Stranski-Krastanow layers A Rosenauer, D Gerthsen, D Van Dyck, M Arzberger, G Böhm, ... Physical Review B 64 (24), 245334, 2001	132	2001
Composition fluctuations in InGaN analyzed by transmission electron microscopy D Gerthsen, E Hahn, B Neubauer, A Rosenauer, O Schön, M Heuken, ... physica status solidi (a) 177 (1), 145-155, 2000	132	2000
Atom counting in HAADF STEM using a statistical model-based approach: Methodology, possibilities, and inherent limitations A De Backer, GT Martinez, A Rosenauer, S Van Aert Ultramicroscopy 134, 23-33, 2013	121	2013
Investigations on the Stranski–Krastanow growth of CdSe quantum dots D Schikora, S Schwedhelm, DJ As, K Lischka, D Litvinov, A Rosenauer, ... Applied Physics Letters 76 (4), 418-420, 2000	109	2000
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures: an analysis of composition and strain state A Rosenauer Springer Science & Business Media, 2003	104	2003

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